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    | Charakterisierung und QualitätssicherungDatum: 25.4.2012Veranstaltungsart: Seminar
 
 Verlustmechanismen,  Charakteristika und Zusammenhänge     Messmethoden der Wafer- / Solarzellencharakterisierung     (Messprinzipien / Anwendungsbeispiele ausgewählter Methoden)         Bestimmung von Waferparameter         Bestimmung von Rekombinationsparameter         Bestimmung von Widerstandsparametern         Bestimmung von optischen Parametern         Bestimmung von Solarzellenparametern     Anwendung der Methoden in der Produktionslinie     Trouble-Shooting
 
 Kontakt:
 Stefanie Hermann
 Emmy-Noether-Str. 2
 79110 Freiburg
 info@pv-training.org
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